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簡要描述:JIS K6783-1994農(nóng)業(yè)用乙烯乙酸乙烯薄膜膜厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
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JIS K6783-1994農(nóng)業(yè)用乙烯乙酸乙烯薄膜膜厚儀
◆設(shè)備型號:PARAM博每 CHY-C2A
◆設(shè)備品牌:Labthink蘭光
◆關(guān)鍵詞:測厚儀,薄膜厚度儀,薄膜測厚儀,紙張厚度測定儀,厚度測量儀,厚度計,薄膜厚度測量儀,薄膜厚度檢測儀,薄膜厚度測定儀,薄片測厚儀,硅片測厚儀,GB/T 6672,紙張測厚儀
◆設(shè)備報價:濟(jì)南蘭光咨詢!
◆應(yīng)用范圍:CHY-C2A測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式,嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
◆技術(shù)特征:
√ 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計接觸面積和測量壓力,支持各種非標(biāo)定制
√ 測量頭自動升降,有效避免人為誤差
√ 支持自動和手動兩種測量模式
√ 實時顯示測量結(jié)果的zui大值、zui小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)
√ 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定
√ 支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能
√ 微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
◆技術(shù)特征:
1、測試范圍:0~2mm(常規(guī));0~6mm;12mm(可選)
2、分辨率:0.1μm
3、測量速度:10 次/min (可調(diào))
4、測試壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
5、接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
◆儀器標(biāo)配:主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
◆生產(chǎn)廠家:濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司
◆公司:www.labthink。。com
產(chǎn)品咨詢
郵箱:marketing@labthink.cn
地址:濟(jì)南市無影山路144號
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